GB環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)

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  GB環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)：

     1、GB2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫 　

     2、GB5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備 　　

     3、GB2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫 　　

     4、GB2423.22 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法 　　

     5、GB2423.3 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ca：恒定濕熱 　　

     6、GB5170.5 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備 　　

     7、GB2423.4 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱 　　

     8、GB2423.9 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱 　

     9、GB2423.16 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)J：長(zhǎng)霉 　　

     10、GB2423.17 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka：鹽霧 　　

     11、GB5170.8 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備 　　

     12、GB2423.18 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kb：交變鹽霧 　　

     13、GB2423.19 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法 Kc：接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)

     14、GB5170.11 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法：腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備 　

     15、GB2423.20 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法 Kd：接觸點(diǎn)和連接件硫件氫試驗(yàn)方法GB/T5170.2----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

　  16、GB/T5170.5----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

　  17、GB/T5170.8----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備

　 18、GB/T5170.9----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備

　 19、GB/T5170.10---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

　 20、GB/T5170.11---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

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