電子產(chǎn)品的冷熱沖擊試驗箱

2020-12-23 點擊量：

　　一冷一熱的冷熱沖擊環(huán)境產(chǎn)生的破壞力比想象要大的多，很多產(chǎn)品都會因為溫度轉變過快產(chǎn)生熱脹冷縮反應，從而引起產(chǎn)品的開裂、膨脹，影響后續(xù)的正常使用。很多廠家為了了解產(chǎn)品的上限以及后續(xù)生產(chǎn)質量，會通過冷熱沖擊試驗箱來提前檢測，電子產(chǎn)品行業(yè)就是其中之一。

　　電子產(chǎn)品的冷熱沖擊試驗：

 

　　將無包裝、不導通、不帶電狀態(tài)的產(chǎn)品以正常位置放入試驗艙內，高溫箱設定溫度為60℃，低溫箱設定溫度為-20℃，先將產(chǎn)品放入高溫箱內穩(wěn)定溫度保持2小時，然后放入低溫箱內穩(wěn)定溫度保持2小時，轉換的時間不得超過15秒。將高溫到低溫設為一個循環(huán)，共循環(huán)12次。循環(huán)期滿后，將產(chǎn)品放置在正常大氣條件下2小時，期滿后對產(chǎn)品進行全方面檢測，確定產(chǎn)品外觀、結構、功能、性能全部正常為合格。

　　冷熱沖擊試驗的主要目的是檢驗產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力，用戶使用無后顧之憂。除冷熱沖擊檢測外，電子產(chǎn)品還有很多需要檢測的項目，例如高溫檢測、低溫檢測、跌落試驗、溫度循環(huán)試驗、鹽霧試驗等，這些都是保證電子產(chǎn)品不會受到環(huán)境影響而必做的檢測。