芯片高低溫交變試驗機測試流程

2020-07-13 點擊量：

　　高低溫交變試驗機適用于電子產品、汽車非金屬材料、內外飾件及各類電子電氣產品的性能與可靠性試驗，對溫度有較大的控制范圍，在設備應用上選擇滿足“電工電子產品基本環境試驗規程”的溫濕度可控制量程，即可進行電子產品或材料的高溫、低溫和濕熱交變等環境試驗。

　　對于各種塑料、橡膠等非金屬材料、車身附件和電工電子產品的高溫、熱老化試驗，選用高低溫交變試驗機，它屬于氣候模擬箱。通過試驗能夠了解汽車零部件的耐高溫性能，如汽車上橡塑件的熱老化性能，車身附件及電子產品的耐熱性能，測試汽車內外飾材料及電氣件在高溫和恒溫試驗的溫度環境變化后的參數及性能，是汽車部件質量控制的重要一環。
 

　　高低溫交變試驗機測試流程：

　　1、在樣品斷電的狀態下，先將溫度下降到-50°C，保持4個小時；請勿在樣品通電的狀態下進行低溫測試，非常重要，因為通電狀態下，芯片本身就會產生+20°C以上溫度，所以在通電狀態下，通常比較容易通過低溫測試，必須先將其“凍透”，再次通電進行測試。

　　2、開機，對樣品進行性能測試，對比性能與常溫相比是否正常。

　　3、進行老化測試，觀察是否有數據對比錯誤。

　　4、升溫到+90°C，保持4個小時，與低溫測試相反，升溫過程不斷電，保持芯片內部的溫度一直處于高溫狀態，4個小時后執行2、3、4測試步驟。

　　5、高溫和低溫測試分別重復10次。

　　如果測試過程出現任何一次不能正常工作的狀態，則視為測試失敗。