電子及電子元器件高低溫沖擊實(shí)驗(yàn)
2020-05-15 點(diǎn)擊量：
高低溫沖擊實(shí)驗(yàn)是用于考核產(chǎn)品在溫度急速變換環(huán)境下的適應(yīng)性，是產(chǎn)品設(shè)計(jì)定型和批量生產(chǎn)階段的一種質(zhì)量把控方式，在有些情況下也能用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)。高低溫沖擊試驗(yàn)室確定元件暴露在高低溫極值下，抵御高低溫極值交替沖擊的能力。
高低溫沖擊試驗(yàn)方法：
一、實(shí)驗(yàn)前準(zhǔn)備工作
1、對(duì)電子及電子元器件進(jìn)行外觀檢查、電性能和機(jī)械性能檢查。
2、將樣品按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行安裝，在放入工作室內(nèi)時(shí)，硬保證氣流能順利無(wú)阻穿過(guò)、繞過(guò)被檢測(cè)樣品。
二、試驗(yàn)步驟
1、將樣品放入低溫箱內(nèi)，此時(shí)低溫箱的溫度調(diào)整為-55℃（可存在0~-3℃的誤差）或-65℃（可存在0~-5℃的誤差），并在該溫度下保持0.25~4h（具體時(shí)間參考下表）。
2、第一步結(jié)束后，需在5min中內(nèi)將樣品從低溫箱移至高溫箱，此時(shí)高溫箱的溫度應(yīng)調(diào)整為25℃（可存在±10℃的誤差），并在該溫度下保存，保存時(shí)間可參考下表。
3、上一步結(jié)束后，需在5min中內(nèi)將樣品從高溫箱再移至低溫箱，第一步低溫箱溫度為-55℃的，高溫箱溫度可設(shè)定為85℃（可存在0~-3℃的誤差），第一步低溫箱溫度為-65℃，高溫箱溫度可從125℃（可存在0~-3℃的誤差）、200℃（可存在0~-5℃的誤差）、350℃（可存在0~-5℃的誤差）、500℃（可存在0~-5℃的誤差）、150℃（可存在0~-5℃的誤差）中選擇檢測(cè)，檢測(cè)時(shí)間參考下表。
4、上一步結(jié)束后，按照第二步方法再進(jìn)行設(shè)定。
5、將 1~4步循環(huán)5次、25次、50次、100次，除了最初的5次循環(huán)不可中斷外，之后的任何一次循環(huán)都可中斷試驗(yàn)，再恢復(fù)試驗(yàn)之前可允許恢復(fù)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)大氣壓。
高低溫沖擊試驗(yàn)檢測(cè)時(shí)長(zhǎng)
在高低溫沖擊實(shí)驗(yàn)循環(huán)結(jié)束 后，將樣品放置在標(biāo)準(zhǔn)大氣壓條件下，待樣品溫度穩(wěn)定，然后根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)樣品的外觀、電性能、機(jī)械性能進(jìn)行檢查。
