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多禾試驗(yàn)設(shè)備(上海)有限公司

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業(yè)界新聞

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手機(jī)恒溫恒濕試驗(yàn)箱檢測

2019-05-24 點(diǎn)擊量:

1.高溫貯存試驗(yàn)
-試驗(yàn)?zāi)康模簷z驗(yàn)產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下貯存的適用性
-試驗(yàn)設(shè)備:恒溫恒濕試驗(yàn)箱
 -試驗(yàn)內(nèi)容:被測產(chǎn)品不包裝、不通電,以正常位置放入試驗(yàn)箱內(nèi),使試驗(yàn)箱溫度達(dá)到60±2℃,溫度穩(wěn)定后持續(xù)16小時(shí),持續(xù)期滿,立即進(jìn)行試驗(yàn)后檢測。

2.低溫貯存試驗(yàn)
-試驗(yàn)?zāi)康模簷z驗(yàn)產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下貯存的適用性
-試驗(yàn)設(shè)備:恒溫恒濕試驗(yàn)箱
-試驗(yàn)內(nèi)容:被測產(chǎn)品不包裝、不通電,以正常位置放入試驗(yàn)箱內(nèi),使試驗(yàn)箱溫度達(dá)到-20±2℃,溫度穩(wěn)定后持續(xù)16小時(shí),持續(xù)期滿,在正常大氣條件下放置2H,放置期滿,被測樣機(jī)進(jìn)行試驗(yàn)后的檢查。

-判定標(biāo)準(zhǔn):

GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫    IEC 60068-2-1:2007
GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫 IEC 60068-2-2:2007
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化 IEC 60068-2-14
GJB150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分: 高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分: 低溫試驗(yàn)